X-250 Scrapper - анализатор

X-250 определяет концентрацию Mg и Si в сплавах в 10 раз быстрее, чем любой другой рентгеновский анализатор, и с большей точностью.
Точные измерения Mg и Si имеют решающее значение для высокоточного определения марки алюминиевого сплава. X-250 измеряет Mg до 0,25% и Si до 0,15% за 2 секунды, позволяя с помощью рентгеновского излучения точно установить химический состав исследуемого образца.

При этом на других легирующих металлах, таких как Cr, Cu, Zr, Zn, Mn, также сохраняется преимущество в скорости измерений. Например, точность определения Mn необходима для сортировки сплавов серии 3000, например 3105, 3003 и других подобных. То же самое справедливо и для небольших различий Cu, Cr и Zr, которые часто различают сплавы 6000 и 7000 сортов.

Уникальные функции Анализатора XRF-200

• Детектор:
  

20 мм2 стандарт SDD и DPP 125k cps, разрешение 135eV FWHM по K-alpha Mn 5.95, более 90% измерений в режиме реального времени.

• Рентгеновская трубка:
  

6-40kV, 200uA , анод Rh (сплав) или 6-50kV, 200uA анод Au (геохимия, почва, другие).